사업분야
차별화된 기술력과 창조적인 사고 더 큰 도약을 위한 도전은 계속됩니다.
APS 사업부
FPD Solution
Laser Scanning Microscope (LSM)
- Defect analysis and high resolution review system
- Material / component structure analysis
- Thin film analysis: uniformity, material characteristic/properties
- Noncontact, nondestructive analysis
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